Тезисы докладов X всесоюзного симпозиума "Методы представления и аппаратурный анализ случайных процессов и полей" : г. Сухуми, март 1978 г. /
Тезисы докладов X всесоюзного симпозиума "Методы представления и аппаратурный анализ случайных процессов и полей" : г. Сухуми, март 1978 г. /
Всесоюз. науч.-исслед. ин-т электроизмер. приборов.
- Ленинград : Б. и., 1978-.
- секция.
Теория погрешностей и метрологическое обеспечение измерений вероятностных характеристик ; Средства измерения вероятностных характеристик ; Методы представления случайных величин, процессов и полей ; Моделирование случайных величин, процессов и полей ; Методы и алгоритмы измерения вероятностных характеристик Секция 1 (1978, 112 с.) : Секция 2 (1978, 93 с., ил.) : Секция 3 (1978, 96 с., ил.) : Секция 4 (1978, 79 с., ил.) : Секция 5 (1978; 148 с., ил.) :
Случайные процессы (мат.), теория - Тезисы докладов
Теория погрешностей и метрологическое обеспечение измерений вероятностных характеристик ; Средства измерения вероятностных характеристик ; Методы представления случайных величин, процессов и полей ; Моделирование случайных величин, процессов и полей ; Методы и алгоритмы измерения вероятностных характеристик Секция 1 (1978, 112 с.) : Секция 2 (1978, 93 с., ил.) : Секция 3 (1978, 96 с., ил.) : Секция 4 (1978, 79 с., ил.) : Секция 5 (1978; 148 с., ил.) :
Случайные процессы (мат.), теория - Тезисы докладов