Normal view MARC view ISBD view

Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур /

Раков, Александр Васильевич.

Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур / А.В. Раков. - Москва : Сов. радио, 1975. - 176 с. : 4 табл., 71 рис.

Библиогр. 115 назв.

ISBN: 00.55

Subjects--Topical Terms:
Спектрофотометрические исследования

Place hold
Print
Add to your cart (remove)
Send to device
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org) ARAR ARMUNICAT HAYGIRK