Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография = High resolution x-ray diffractometry and topography /
Боуэн, Д.К.
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография = High resolution x-ray diffractometry and topography / High resolution x-ray diffractometry and topography Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред.: И.Л. Шульпина ; Пер. с англ. И.Л. Шульпиной, Т.С. Аргуновой. - Санкт-Петербург : Наука, 2002. - 273 с. ил.
Библиогр. в конце гл.
5020249637
Электронная техника
Кристаллофизика
Радиотехнические материалы и изделия--Полупроводниковые материалы--Исследования--Рентгеновские методы исследований
Анализ эпитаксиальных слоев Анализ тонких пленок и многослойных систем
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография = High resolution x-ray diffractometry and topography / High resolution x-ray diffractometry and topography Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред.: И.Л. Шульпина ; Пер. с англ. И.Л. Шульпиной, Т.С. Аргуновой. - Санкт-Петербург : Наука, 2002. - 273 с. ил.
Библиогр. в конце гл.
5020249637
Электронная техника
Кристаллофизика
Радиотехнические материалы и изделия--Полупроводниковые материалы--Исследования--Рентгеновские методы исследований
Анализ эпитаксиальных слоев Анализ тонких пленок и многослойных систем
All site content, except where otherwise noted, is licensed under a