Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : В 2-х кн. / [Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюбери, П. Эчлин [и др.]] ; пер. с англ. Р.С. Гвоздовер, Л.Ф. Комоловой ; под ред. В.И. Петрова.
Material type:
TextPublication details: Москва : Мир, 1984.Description: Кн. ; 22 смSubject(s):
Contents:
Кн. 1 (1984, 304 с., ил., табл.) Кн. 2 (1984, 348 с. : ил., табл. ; Библиогр.: с. 318-341 ; Предм. указ.: с. 342-346)
| Item type | Current library | Collection | Call number | Vol info | Status | Notes | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/523487 (Browse shelf(Opens below)) | Кн. 1 | Available | 30 Days Loan | FL0184752 | ||
|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/523488 (Browse shelf(Opens below)) | Кн. 2 | Available | 30 Days Loan | FL0184753 | ||
|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/523601 (Browse shelf(Opens below)) | Кн. 2 | Available | 30 Days Loan | FL0184515 |
Кн. 1 (1984, 304 с., ил., табл.) Кн. 2 (1984, 348 с. : ил., табл. ; Библиогр.: с. 318-341 ; Предм. указ.: с. 342-346)
Оригинал на англ.: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis J.I. [etc] Goldstein. - New York; London, 1981
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.
All site content, except where otherwise noted, is licensed under a