Фелдман, Леонард <br/><br/>
Основы анализа поверхности и тонких пленок / 
Л. Фелдман, Д. Майер ; Пер. с англ. В.А. Аркадьева, Л.И. Огнева ; Под ред. В.В. Белошицкого. 
 - Москва :  Мир,  1989. 
 - 342 с. ;  22 см. 
<br/><br/>Библиогр. в конце глав 
<br/><br/>
<br/><br/><label>ISBN: </label>5030010173 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Пленки тонкие<br/>Поверхностные слои