Fundamental Scientific Library of NAS RA

Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; Пер. с англ. В.А. Аркадьева, Л.И. Огнева ; Под ред. В.В. Белошицкого.

By: Contributor(s): Material type: TextTextLanguage: Russian Original language: English Publication details: Москва : Мир, 1989.Description: 342 с. ; 22 смISBN:
  • 5030010173
Subject(s):
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Item type Current library Collection Call number Status Notes Date due Barcode
Գրքեր/Books Գրքեր/Books Fundamental Scientific Library General PII/610579 (Browse shelf(Opens below)) Available 30 Days Loan 120610579
Գրքեր/Books Գրքեր/Books Fundamental Scientific Library General PII/614818 (Browse shelf(Opens below)) Available 30 Days Loan 120614818

Библиогр. в конце глав

Oригинал на англ. : Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer - New York, Amsterdam, London : North-Holland : 1986

There are no comments on this title.

to post a comment.


ՀՀ ԳԱԱ հիմնարար գիտական գրադարան
ՀՀ,Երևան 0019
Մարշալ Բաղրամյան 24/6
հեռախոս:(374-10) 52-47-50
Հետադարձ կապ

All site content, except where otherwise noted, is licensed under a
Creative Commons License