000			01126nam a2200253 u 4500
001			000349654
003			AM-YeHGA
005			20210831132803.0
008			040708s1976 ai r 000 0 rus d
040			_aAM-YeHGA _cAM-YeHGA
041	0		_arus
245	0	0	_aИсследование механических свойств контакта сферический идентор-полупроводник на растровом электронном микроскопе / _cГ.Г. Бабаян, В.И. Петров, Ю.А. Голубев, С.Г. Асатрян, Е.С. Добрынина; ЕФИ.
260			_aЕреван : _bАрус, _c1976.
300			_a16 с. : _bил., граф. ; _c20 см.
440		0	_aНаучное сообщение ЕФИ _v179(25)-(76)
504			_aБиблиогр.: с. 13 (19 наим.)
650	1	4	_aФизика
700	1		_aБабаян, Г.Г.
700	1		_aПетров, В.И.
700	1		_aГолубев, Ю.А.
700	1		_aАсатрян, С.Г.
700	1		_aДобрынина, Е.С.
710	2		_aЕреванский физический институт
999			_c135015 _d135015