000 | 01055nam a2200229 a 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 000660761 | ||
003 | AM-YeHGA | ||
005 | 20210831162001.0 | ||
008 | 090525s1982 un |||||r|||||000|0|rus|d | ||
040 |
_aAM-YeHGA _cAM-YeHGA |
||
041 | 0 | _arus | |
100 | 1 | _aЧерепин, Валентин Тихонович | |
245 | 1 | 0 |
_aМетоды и приборы для анализа поверхности материалов : _bсправочник / _cВ.Т. Черепин, М.А. Васильев; АН УкрССР, Ин-т металлофизики. |
260 |
_aКиев : _bНаукова Думка, _c1982. |
||
300 | _a400 с. | ||
504 | _aБиблиогр. : с. 360 - 395. - Предм. ук. : с. 396 - 399 | ||
650 | 1 | 4 | _aЭмиссионные методы анализа |
653 | 1 | _aметод термической десорбции | |
700 | 1 | _aВасильев, Михаил Алексеевич | |
710 | 2 | _aАкадемия Наук Украинской ССР | |
710 | 2 | _aИнститут металлофизики | |
999 |
_c242750 _d242750 |