000 01162nam a2200205 a 4500
001 000747078
003 AM-YeHGA
005 20210831171644.0
008 100629s1984 ||| r 000 0 rus d
040 _aAM-YeHGA
_cAM-YeHGA
041 0 _arus
245 0 0 _aИзмерение и контроль при производстве интегральных схем :
_bСборник научных трудов /
_cМоск. ин-т электрон. техники; Редкол.: Н.Д. Дубовой (гл. ред.) и др.
260 _aМосква :
_bМИЭТ,
_c1984.
300 _a115 с. :
_bил.
504 _aБиблиогр. в конце ст.
653 0 _aМикроэлектронные схемы интегральные - Технический контроль автоматический - Сборники
653 0 _aТехнический контроль автоматический - Микроэлектронные схемы интегральные
700 1 _aДубовой, Николай Дмитриевич
_eред.
_4edt
710 2 _aМосковский институт электронной техники
999 _c277725
_d277725