000			01992nam a2200205 a 4500
001			001172773
003			AM-YeHGA
005			20230301143439.0
008			160901s1978 ru ||||gr|||||||||0|rus|d
040			_aAM-YeHGA _cAM-YeHGA
041	0		_arus
111	2		_a"Методы представления и аппаратурный анализ случайных процессов и полей", Всесоюзный симпозиум _n(10 : _d1978 ; _cСухуми)
245	1	0	_aТезисы докладов X всесоюзного симпозиума "Методы представления и аппаратурный анализ случайных процессов и полей" : _bг. Сухуми, март 1978 г. / _cВсесоюз. науч.-исслед. ин-т электроизмер. приборов.
260			_aЛенинград : _bБ. и., _c1978-.
300			_aсекция.
505	1	0	_gСекция 1 (1978, 112 с.) : _tТеория погрешностей и метрологическое обеспечение измерений вероятностных характеристик ; _gСекция 2 (1978, 93 с., ил.) : _tСредства измерения вероятностных характеристик ; _gСекция 3 (1978, 96 с., ил.) : _tМетоды представления случайных величин, процессов и полей ; _gСекция 4 (1978, 79 с., ил.) : _tМоделирование случайных величин, процессов и полей ; _gСекция 5 (1978; 148 с., ил.) : _tМетоды и алгоритмы измерения вероятностных характеристик
653	0		_aСлучайные процессы (мат.), теория - Тезисы докладов
710	2		_aВсесоюзный научно-исследовательский институт электроизмерительных приборов
942			_2udc _cBK _n0
999			_c376381 _d376381