| 000 | 01217nam a2200277 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000139687 | ||
| 003 | AM-YEHGA | ||
| 005 | 20240827022050.0 | ||
| 008 | 980311s1989 ru ||||gr|||||||||0|rus|d | ||
| 020 | _a5030010173 | ||
| 040 |
_aAM-YEHGA _cAM-YeHGA |
||
| 041 | 1 |
_arus _heng |
|
| 100 | 1 | _aФелдман, Леонард | |
| 245 | 1 | 0 |
_aОсновы анализа поверхности и тонких пленок / _cЛ. Фелдман, Д. Майер ; Пер. с англ. В.А. Аркадьева, Л.И. Огнева ; Под ред. В.В. Белошицкого. |
| 260 |
_aМосква : _bМир, _c1989. |
||
| 300 |
_a342 с. ; _c22 см. |
||
| 504 | _aБиблиогр. в конце глав | ||
| 534 |
_pOригинал на англ. : _tFundamentals of Surface and Thin Film Analysis / _aLeonard C. Feldman, James W. Mayer - _cNew York, Amsterdam, London : North-Holland : 1986 |
||
| 650 | 1 | 4 | _aПленки тонкие |
| 650 | 1 | 4 | _aПоверхностные слои |
| 700 | 1 | _aМайер, Джеймс | |
| 700 | 1 |
_aАркадьев, В.А. _eпер. _4trl |
|
| 700 | 1 |
_aОгнев, Л.И. _eпер. _4trl |
|
| 700 | 1 |
_aБелошицкий, В.В. _eред. _4edt |
|
| 942 |
_2udc _cBK |
||
| 999 |
_c47630 _d47630 |
||