000 01423nam a2200253 u 4500
001 000239205
003 AM-YeHGA
005 20210831121540.0
008 030624s1984 ai r 000 0 rus d
040 _aAM-YEHGA
_cAM-YEHGA
245 0 0 _aРастровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ :
_bВ 2-х кн. /
_c[Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюбери, П. Эчлин [и др.]] ; пер. с англ. Р.С. Гвоздовер, Л.Ф. Комоловой ; под ред. В.И. Петрова.
260 _aМосква :
_bМир,
_c1984.
300 _aКн. ;
_c22 см.
505 0 _gКн. 1 (1984, 304 с., ил., табл.)
_gКн. 2 (1984, 348 с. : ил., табл. ; Библиогр.: с. 318-341 ; Предм. указ.: с. 342-346)
534 _pОригинал на англ.:
_tScanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
_aJ.I. [etc] Goldstein. -
_cNew York; London, 1981
650 1 4 _aМикроскопия электронная
650 1 4 _aРентгеновская флюоресцентная спектрометрия
700 1 _aГоулдстейн, Джозеф
700 1 _aНьюбери, Дэйл
700 1 _aЭчлин, Патрик
700 1 _aПетров, В.И.
_eред.
_4edt
700 1 _aГвоздовер, Р.С.
_eпер.
_4trl
700 1 _aКомолова, Л.Ф.
_eпер.
_4trl
999 _c85963
_d85963