Normal view MARC view ISBD view

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : В 2-х кн. / [Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюбери, П. Эчлин [и др.]] ; пер. с англ. Р.С. Гвоздовер, Л.Ф. Комоловой ; под ред. В.И. Петрова.

Contributor(s):

Material type: Text

TextPublication details: Москва : Мир, 1984.Description: Кн. ; 22 смSubject(s):

Contents:

Кн. 1 (1984, 304 с., ил., табл.) Кн. 2 (1984, 348 с. : ил., табл. ; Библиогр.: с. 318-341 ; Предм. указ.: с. 342-346)

Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.

Average rating: 0.0 (0 votes)

Holdings
Item type	Current library	Collection	Call number	Vol info	Status	Notes	Barcode
Գրքեր/Books	Fundamental Scientific Library	General	PII/523487 (Browse shelf(Opens below))	Кн. 1	Available	30 Days Loan	FL0184752
Գրքեր/Books	Fundamental Scientific Library	General	PII/523488 (Browse shelf(Opens below))	Кн. 2	Available	30 Days Loan	FL0184753
Գրքեր/Books	Fundamental Scientific Library	General	PII/523601 (Browse shelf(Opens below))	Кн. 2	Available	30 Days Loan	FL0184515

Previous								Next
Previous	PII/523478 Критика буржуазных теорий ГМК : Проблемы "смешанной экономики" /	PII/523484 Рассеяние света в твердых телах /	PII/523487 Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : В 2-х кн. /	PII/523488 Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : В 2-х кн. /	PII/523492 Химия и технология ароматических соединений в задачах и упражнениях : Учебное пособие /	PII/523494 Колебания и волны в сильных гравитационных и электромагнитных полях /	PII/523495 Методы граничных элементов в прикладных науках /	Next

Кн. 1 (1984, 304 с., ил., табл.) Кн. 2 (1984, 348 с. : ил., табл. ; Библиогр.: с. 318-341 ; Предм. указ.: с. 342-346)

Оригинал на англ.: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis J.I. [etc] Goldstein. - New York; London, 1981

There are no comments on this title.

to post a comment.